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 Autres thèmes |
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| N° 35 Tests électriques de cartes électroniques |
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| Pour les chefs de projets, responsables méthodes électroniques, personnels des services production ainsi que R&D et bureaux d'études. |
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Objectif : présenter dans un premier temps les différentes techniques de test électrique (in-situ, fonctionnel, boundary-scan et tests combinés) ainsi que leur place dans la solution globale de test et contrôler des cartes électroniques. Détailler les différentes interfaces de test et autres éléments importants du système ainsi que les règles de testabilité à appliquer lors de la conception de la carte électronique. Permettre d’appréhender la réflexion à mener sur la stratégie de test à adopter par type de carte en fin de stage.
Une méthode de calcul de la couverture de test est mise à leur disposition. L’étude d’un cas concret est proposée amenant les stagiaires à construire une stratégie de test et à rédiger un cahier des charges. Tout au long du stage, la participation active des stagiaires est sollicitée au travers de différentes méthodes pédagogiques. |
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Durée du stage : 18 heures en 2,5 jours
Nombre maximum de stagiaires par session : 8
Nombre minimum de stagiaires par session : 4 Formateur : M. Bruno MANGANIELLO (Consultant)
Sessions 2012 : du 27 au 29 mars (midi) -/- du 03 au 05 juillet (midi) -/- du 20 au 22 novembre (midi). |
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