35 – Inspection et test des cartes électroniques (Design for test et stratégie de test, outils associés)



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Description

PERSONNEL CONCERNE

Chefs de projets, responsables méthodes électroniques, personnels des services production ainsi que R&D et bureaux d’études.

OBJECTIF

Sensibiliser fortement les équipes de conception et test au design for test et à la stratégie de test à mener pendant la conception de la carte électronique, notamment en raison de la forte complexité des cartes.
Présenter dans un premier temps les différentes techniques d’inspection via un passage rapide sur leurs intérêts et limitations. Aborder les différentes techniques de test électrique (tests sondes mobiles, in-situ, fonctionnel, boundary-scan) ainsi que leur place dans la solution globale de test et de contrôle des cartes électroniques. Détailler les principales interfaces de test et autres éléments importants du système.
Comprendre les règles de testabilité et les faire appliquer lors de la conception de la carte électronique.
Permettre de piloter la stratégie de test à adopter, prenant en compte la technologie des cartes assemblées et le signal. Le sujet est développé sur deux axes principaux qui sont le design for test (DFT) et la stratégie de test (Choix de la stratégie de test, vérification des règles de conception pour le test, optimisation des points de test et placement)
Une méthode de calcul de la couverture de test prédictive et réelle est présentée avec un logiciel adapté. L’étude d’un cas concret est proposée, amenant les stagiaires à construire une stratégie de test et à rédiger un cahier des charges.
Tout au long du stage, la participation active des stagiaires est sollicitée au travers de différentes méthodes pédagogiques.

PRE-REQUIS

En dehors du fait de savoir lire, écrire et compter : avoir des connaissances minimum en électronique permettant de savoir lire un schéma électronique. Niveau minimum BAC Technique, BAC+2. Avoir un minimum de connaissances théoriques sur les lignes d’assemblages de produits électroniques. Une bonne connaissance de l’inspection est indispensable pour une bonne compréhension globale. Il est recommandé d’avoir assisté aux sessions IFTEC « les cartes électroniques » et/ou « systèmes d’inspection et contrôle des cartes électroniques ».

MOYENS PEDAGOGIQUES

Animation par vidéo projection, photos diverses.
Logiciel d’analyse de testabilité : TESTWAY.
Un mémo en couleur est remis à chaque participant (résumé du cours, photos, etc.).

PROGRAMME

1 – TESTER UNE CARTE ELECTRONIQUE
  • Importance du design for test (DFT) pendant la conception d’un nouveau produit.
  • Le test : coût et retour sur investissement.
  • Définir une stratégie de test.
  • Normes sur le test liées à l’utilisation finale du produit.
  • Règles pour le choix de l’instrumentation.
2 – LES DIFFÉRENTES TECHNIQUES DE TEST
  • Les systèmes présents sur une ligne de production.
  • Test optique AOI 2D/3D et rayon X.
  • Test in-situ :
    – Principe de base.
    – Les niveaux de test.
    – Les différents types de testeurs.
    – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Boundary-Scan :
    – Principe.
    – Conditions pour implémenter le Boundary Scan.
    – Intégration dans les outils de test.
    – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Test fonctionnel :
    – Principe.
    – Les différentes catégories de systèmes.
    – Exemple de testeurs fonctionnels.
    – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Test final du produit.
  • Tests combinés (in-situ / Fonctionnel / Boundary Scan).
  • Test de déverminage.
  • Test de fiabilité (Halt / Hass).
  • Avantages, inconvénients pour chaque technique de test – Spectre de défauts.
3 – LES INTERFACES DE TEST
  • Généralités.
  • Description.
  • Les différentes catégories (à vide, à compression, manuelles, simple puits, double puits, etc…).
  • Les interfaces in-situ.
  • Les interfaces fonctionnelles.
  • Les constituants exotiques d’une interface (compteur, pointes switch, graveur, etc.).
  • Données nécessaires à la réalisation d’une interface.
  • Les aiguilles de test.
4 – RÈGLES DE DESIGN FOR TEST (DFT)
  • Règles de conception.
  • Règles mécaniques à prendre en compte lors de la conception du produit.
  • Règles d’accessibilité.
  • Règles électriques à prendre en compte lors de la conception du produit.
  • Définition de la couverture de test prédictive et réelle.
5 – STRATÉGIE DE TEST
  • Définition.
  • Données à collecter pour définir sa stratégie de test et déterminer le taux de couverture.
  • Logiciel d’analyse de testabilité : TESTWAY.
  • Méthode de calcul de la couverture de test
  • Questions pertinentes pour bien choisir sa stratégie de test.
  • Précautions suivants le type de cartes à tester (alimentation, RF, HF, présence haute tension, etc.).
6 – DE LA CONCEPTION AU TEST D’UN PRODUIT – ETUDE DE CAS
  • Déroulement typique d’un projet.
  • Exercice sur l’étude d’un cas concret prédéfini par le formateur pour travailler les différents principes vus précédemment :
    – Calcul du taux de couverture.
    – Présentation de la stratégie adoptée.
    – Discussion.
    – Conclusion.

Informations complémentaires

DUREE DU STAGE

17h30 en 2,5 jours

SANCTION

Attestation de stage

NOMBRE DE STAGIAIRES

Maximum par session = 8
Minimum par session = 4

FORMATEUR

M. Éric LACOURT, Consultant

SESSIONS 2019

A Bourg la Reine :
– du 04 au 06 juin (midi)
– du 05 au 07 novembre (midi)