35 – Test électrique de cartes électroniques



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Description

PERSONNEL CONCERNE

Chefs de projets, responsables méthodes électroniques, personnels des services production ainsi que R&D et bureaux d’études.

OBJECTIF

Présenter dans un premier temps les différentes techniques d’inspection via un passage rapide sur leurs intérêts et limitations. Puis détail des différentes techniques de test électrique (in-situ, fonctionnel, boundary-scan et tests combinés) ainsi que leur place dans la solution globale de test et contrôler des cartes électroniques. Détailler les principales interfaces de test et autres éléments importants du système ainsi que les règles de testabilité à appliquer lors de la conception de la carte électronique. Permettre d’appréhender la réflexion à mener sur la stratégie de test à adopter prenant en compte la technologie des cartes assemblées et le signal. Le sujet sera développé sur deux axes principaux, qui sont le design for testability (DFT) et la stratégie de test.
Une méthode de calcul de la couverture de test est mise à leur disposition. L’étude de deux cas concrets est proposée, amenant les stagiaires à construire une stratégie de test et à rédiger un cahier des charges.
Tout au long du stage, la participation active des stagiaires est sollicitée au travers de différentes méthodes pédagogiques.

PRE-REQUIS

En dehors du fait de savoir lire, écrire et compter : avoir des connaissances minimum en électronique permettant de savoir lire un schéma électronique. Niveau minimum BAC Technique, BAC+2. Avoir un minimum de connaissances théoriques sur les lignes d’assemblages de produits électroniques. Une bonne connaissance de l’inspection est indispensable pour une bonne compréhension globale. Il est recommandé d’avoir assisté aux sessions IFTEC « les cartes électroniques » et/ou « systèmes d’inspection et contrôle des cartes électroniques ».

MOYENS PEDAGOGIQUES

Animation par vidéo projection, photos et vidéos diverses.
Un mémo en couleur est remis à chaque participant (résumé du cours, photos, …)

PROGRAMME

1 – TESTER UNE CARTE ELECTRONIQUE
  • Importance du test
  • Coût et retour sur investissement
  • Comprendre le test
  • Normes ISO, normes sur le test liées à l’utilisation finale du produit
  • Règles pour le choix de l’instrumentation
2 – LES DIFFÉRENTES TECHNIQUES DE TEST
  • Les systèmes présents sur une ligne de production
  • Test optique (SPI et AOI) et rayon X (aperçu)
  • Test in-situ :
    – Principe de base
    – Les niveaux de test
    – Les différents types de testeurs
    – Déroulement d’un projet in-situ (données techniques pour le développement du programme de test)
    – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Boundary-Scan :
    – Principe
    – Conditions pour implémenter le Boundary Scan
    – Intégration dans les outils de test
    – Exemples
    – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Test fonctionnel :
    – Principe
    – Les différentes catégories de systèmes, avantages et inconvénients
    – Du cahier des charges à la définition d’un système
    – Exemple de testeurs fonctionnels
    – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Test final du produit emboîté et proche de son environnement de travail
  • Tests combinés (in-situ / Fonctionnel / Boundary Scan)
  • Test de déverminage
  • Test de fiabilité (Halt / Hass)
  • Avantages, inconvénients pour chaque technique de test – Spectre de défauts
3 – LES INTERFACES DE TEST
  • Généralités
  • Description
  • Les différentes catégories (à vide, à compression, manuelles, simple puits, double puits, etc…)
  • Les interfaces in-situ
  • Les interfaces fonctionnelles
  • Les constituants exotiques d’une interface (compteur, pointes switch, graveur, etc…)
  • Données nécessaires à la réalisation d’une interface
  • Les aiguilles de test
4 – RÈGLES DE TESTABILITÉ (Design For Testability – DFT)
  • Règles mécaniques à prendre en compte lors de la conception du produit
  • Règles électriques pour améliorer la testabilité de la carte
  • Introduction à la couverture de test
5 – STRATÉGIE DE TEST
  • Définition
  • Données stratégiques à collecter pour définir sa stratégie de test et déterminer le taux de couverture
  • Logiciel d’analyse de testabilité (produit type TESTWAY)
  • Méthode de calcul de la couverture de test
  • Questions pertinentes pour bien choisir sa stratégie de test
  • Précautions suivants le type de cartes à tester (alimentation, RF, HF, présence haute tension, etc…)
6 – DE LA CONCEPTION AU TEST D’UN PRODUIT – ETUDE DE CAS
  • Déroulement typique d’un projet
  • Exercice sur l’étude de deux cas concret prédéfinis par le formateur pour travailler les différents principes vus
    précédemment :
    – Calcul du taux de couverture
    – Edition du cahier des charges
    – Présentation de la stratégie adoptée
    – Discussion
    – Conclusion

Informations complémentaires

DUREE DU STAGE

17h30 en 2,5 jours

SANCTION

Attestation de stage

NOMBRE DE STAGIAIRES

Maximum par session = 8
Minimum par session = 4

SESSIONS 2017

A Bourg la Reine :
– du 27 au 29 juin (midi)
– du 14 au 16 novembre (midi)

SESSIONS 2018

A Bourg la Reine :
– du 05 au 07 juin (midi)
– du 06 au 08 novembre (midi)