35 – Inspection et test des cartes électroniques (Design for test et stratégie de test, outils associés)



Pour recevoir les programmes avec tarifs,
faites votre sélection.

0.00


Catégorie :
Taux de satisfaction de cette formation : Nouvelle formation

Ma sélection

Description

PERSONNEL CONCERNÉ

Chefs de projets, responsables méthodes électroniques, personnel des services production, R&D et bureaux d’études.

OBJECTIF

  • Connaître les stratégies, techniques et interfaces de tests, les règles de Design for Test (DFT).
  • Étude d’un cas concret..

PRÉREQUIS

  • Savoir lire, écrire et compter.
  • Niveau minimum BAC Technique, BAC+2.
  • Savoir lire un schéma électronique.
  • Savoir inspecter un assemblage électronique.
  • Avoir des connaissances théoriques sur les lignes d’assemblages de produits électroniques.
  • Il est recommandé d’avoir assisté à la formation IFTEC « les cartes électroniques ».

MOYENS PÉDAGOGIQUES

  • Animation par vidéo projection, photos.
  • Logiciel d’analyse de testabilité : TESTWAY
  • Un mémo en couleur est remis à chaque participant (résumé du cours, photos).

VALIDATION DES ACQUIS

  • QCM au début du stage.
  • QCM à la fin du stage.

PROGRAMME

1 – TESTER UNE CARTE ÉLECTRONIQUE
  • Importance du design for test (DFT) pendant la conception d’un nouveau produit.
  • Le test : coût et retour sur investissement.
  • Définir une stratégie de test.
  • Normes sur le test liées à l’utilisation finale du produit.
  • Règles pour le choix de l’instrumentation.
2 – LES DIFFÉRENTES TECHNIQUES DE TEST
  • Les systèmes présents sur une ligne de production.
  • Test optique AOI 2D/3D et rayon X.
  • Test in-situ :
    – Principe de base.
    – Les niveaux de test.
    – Les différents types de testeurs.
    – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Boundary-Scan :
    – Principe.
    – Conditions pour implémenter le Boundary Scan.
    – Intégration dans les outils de test.
    – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Test fonctionnel :
    – Principe.
    – Les différentes catégories de systèmes.
    – Exemple de testeurs fonctionnels.
    – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
  • Test final du produit.
  • Tests combinés (in-situ/Fonctionnel/Boundary Scan).
  • Test de déverminage.
  • Test de fiabilité (Halt/Hass).
  • Avantages, inconvénients pour chaque technique de test – Spectre de défauts.
3 – LES INTERFACES DE TEST
  • Généralités.
  • Description.
  • Les différentes catégories (à vide, à compression, manuelles, simple puits, double puits, etc…).
  • Les interfaces in-situ.
  • Les interfaces fonctionnelles.
  • Les constituants exotiques d’une interface (compteur, pointes switch, graveur, etc.).
  • Données nécessaires à la réalisation d’une interface.
  • Les aiguilles de test.
4 – RÈGLES DE DESIGN FOR TEST (DFT)
  • Règles de conception.
  • Règles mécaniques à prendre en compte lors de la conception du produit.
  • Règles d’accessibilité.
  • Règles électriques à prendre en compte lors de la conception du produit.
  • Définition de la couverture de test prédictive et réelle.
5 – STRATÉGIE DE TEST
  • Définition.
  • Données à collecter pour définir sa stratégie de test et déterminer le taux de couverture.
  • Logiciel d’analyse de testabilité : TESTWAY.
  • Méthode de calcul de la couverture de test
  • Questions pertinentes pour bien choisir sa stratégie de test.
  • Précautions suivants le type de cartes à tester (alimentation, RF, HF, présence haute tension, etc.).
6 – DE LA CONCEPTION AU TEST D’UN PRODUIT – ÉTUDE DE CAS
  • Déroulement typique d’un projet.
  • Exercice sur l’étude d’un cas concret prédéfini par le formateur pour travailler les différents principes vus précédemment :
    – Calcul du taux de couverture.
    – Présentation de la stratégie adoptée.
    – Discussion.
    – Conclusion.

Informations complémentaires

DUREE DU STAGE

17h30 en 2,5 jours

SANCTION

Attestation de stage

NOMBRE DE STAGIAIRES

Maximum par session = 8
Minimum par session = 4

FORMATEUR

M. Éric LACOURT, Consultant

SESSIONS 2020

A Bourg la Reine :
– du 23 au 25 juin (midi)
– du 03 au 05 novembre (midi)